تجزیه و تحلیل سریع و دقیق پوشش نانو

FT160میزالکترونیکی XRFتجزیه و تحلیل کننده برای اندازه گیری امروزپی سی بیقطعات کوچک در نیمه هادی ها و میکروکانکتورها توانایی اندازه گیری دقیق و سریع قطعات کوچک به افزایش بهره وری و جلوگیری از کار مجدد گران قیمت یا از دست دادن قطعات کمک می کند.

FT160اجزای نوری پلی کالیر می توانند کمتر از50 میکرومتربا ویژگی های پوشش نانومقیاس، تکنولوژی آشکارساز پیشرفته می تواند دقت بالایی را برای شما فراهم کند، در حالی که زمان اندازه گیری کوتاه تر را حفظ می کند. ویژگی های دیگر مانند میز نمونه بزرگ، دروازه نمونه گسترده، دوربین نمونه با کیفیت بالا و پنجره های مشاهده قوی، به راحتی می تواند اشیاء با اندازه های مختلف را بارگذاری کند و مناطق مورد علاقه را روی زیرصفحه های بزرگ پیدا کند. این تجزیه و تحلیل کننده آسان برای استفاده با شماQA / کنترل کیفیتیکپارچه سازی بدون درز فرآیند قبل از وقوع بحران به شما هشدار می دهد.

برجسته محصولات

FT160تکنولوژی های نوری و آشکارساز برای تجزیه و تحلیل لکه های میکرو و پوشش های فوق نازک طراحی شده اند و برای حداقل ویژگی ها بهینه شده اند.

پنجره مشاهده بزرگ برای مشاهده تجزیه و تحلیل از فاصله امن

روش اندازه گیری مطابقایزو 3497،استاندارد ASTM B568ودیان 50987استاندارد

مدل بندی IPC-4552B،پشتیبانی از IPC-4553A،معیار IPC-4554ومعیار IPC-4556تشخیص پوشش سازگاری

موقعیت مشخصات خودکار برای تنظیم سریع نمونه

انتخاب تنظیم کننده تحلیلگر بهینه سازی شده برای برنامه های کاربردی شما

در کمتر از50 میکرومتراندازه گیری پوشش نانو

دو برابر کردن جریان تجزیه و تحلیل ابزارهای سنتی

نمونه های بزرگ با اشکال مختلف

طراحی پایدار برای تولید بلند مدت