معرفی ویژگی های محصول
دستگاه پوشش دقیق گاتان (PECS) ™) II یک دستگاه پوشش و پالایش یونی آرگون پهنای میزی است. برای همان نمونه، می توان پوشش و پالش را در همان محیط خلاء انجام داد.

ویژگی های اصلی محصول:
پوشش دقیق (PECS) ™) II， استفاده از دو پرتو یون آرگون گسترده برای پالش سطح نمونه، حذف لایه از دست دادن، در نتیجه نمونه با کیفیت بالا، برای تصویربرداری، EDS، EBSD، CL، EBIC یا سایر تجزیه و تحلیل در SEM، نوری یا اسکن الکترونیکی، علاوه بر این دو اسلحه یونی را هدف قرار می دهد، می تواند برای پردازش رسوب فلزی هدایت کننده نمونه استفاده شود تا از اثر شارژ در الکتروسکوپ جلوگیری شود.
این ابزار طراحی شده است تا بدون تخریب خلاء و بدون قرار دادن سطح تازه نمونه در اتمسفر، نمونه های پالش شده را پردازش کند. بارگیری و تخلیه نمونه از طریق یک ابزار نمونه گیری که به طور خاص طراحی شده است، در محفظه تبادل خلاء انجام می شود.
دو تفنگ یونی پنینگ کوچک با محدوده ولتاژ بزرگتر، می تواند جلوه پالش سریع و نرم را ارائه دهد. پرتو یونی پایین تا 100eV اثر پیچیدن نرم تر را برای پیچیدن نمونه فراهم می کند. الکترود تمرکز انرژی کم باعث می شود قطر پرتو یون تقریباً در تمام محدوده ولتاژ شتاب ثابت باشد. هر اسلحه یونی می تواند به طور مستقل و دقیق به سمت آن حرکت کند. در طول عملیات ابزار، زاویه اسلحه یونی می تواند تنظیم شود. جریان هوای اسلحه یونی می تواند به صورت دستی یا خودکار در صفحه لمسی برای بهینه سازی جریان کار اسلحه یونی تنظیم شود.
میز نمونه PECS II از روش خنک کننده نیتروژن مایع استفاده می شود. می تواند به طور موثر از نمونه محافظت کند، از آسیب حرارتی پرتو یون جلوگیری کند و تخیلات احتمالی را از بین ببرد.
یک کامپیوتر صفحه لمسی رنگی ۱۰ اینچی یکپارچه کنترل کامل تمام پارامترهای عملیاتی سیستم PECS II را فراهم می کند. این رابط می تواند تمام پارامترها را تنظیم کند و فرایند پالش را نظارت کند. تمام پارامترهای عملیاتی نیز می توانند به عنوان استاندارد ذخیره شوند و استاندارد تماس می تواند آزمایش های تکراری با دقت بالا را بدست آورد.
پمپ مولکولی توربو همراه با پمپ دو مرحله دیپارتمان، محیط فوق العاده تمیز را تضمین می کند. با استفاده از ابزار بارگیری نمونه Gatan، تبادل سریع نمونه (< 1 دقیقه) ممکن است تا اطمینان حاصل شود که کابین پردازش همیشه در حالت خلاء بالا در طول فرآیند تغییر نمونه است.

توضیحات تصویر: (الف) تصویر الکترونیکی دوگانه از سطح نمونه PECSII پالش شده، نشان دهنده دانه های بسیار دوقلو (ب) الگوی کریزاکی از آلیاژ زیرکونی پالش شده PECSII (ج) EBSD نقشه توزیع زاویه اولر (د) IPFZ مقابله با سطح. این عکس توسط پروفسور Angus Wilkin-son در دانشکده مواد دانشگاه آکسفورد و دکتر Hamidreza Abdolvand ارائه شده است. این داده ها در الکتروسکوپ اسکن Zeiss Merlin Compact با سیستم BrukerQuantax EBSD جمع آوری شده است.